SP26H系列半导体参数分析仪

电源完整性分析参考解决方案

在设计和调试需要高电源完整性的配电网络时，请考虑此解决方案。有两个版本可供选择，每个版本基于 1 GHz 或 4 GHz 示波器构建，灵活地满足您的技术要求和预算。

验证电源管理 IC

提高电源管理设备的性能
可以使用电源管理设备（包括电源管理 IC、电源管理单元、电池管理单元和 DC-DC 转换器）来设计各种定制应用，以用于电动汽车、智能家居和设备、电机控制、断电保护设备等应用。设计工程师继续研究其设备如何在宽电压范围和环境工作条件下提高能效。

I-V 检定

测试宽禁带半导体
内在变量 (IV) 的检定对于开发宽禁带半导体至关重要。与传统材料相比，这些半导体具有优异的电气特性，在功率电子产品等方面有着广阔的应用前景。了解这些材料的 I-V 特性将有助于它们的优化利用和发展。

SP26系列半导体参数分析仪

开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要全面的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 SP26半导体参数分析仪（代替原晶体管图示仪）支持各种类型的半导体器件测试参数。参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。

I-V特性

测试宽带隙半导体。表征本征变量(IV)是开发宽带隙半导体的关键。与传统材料相比，这些半导体具有优越的电性能，在电力电子领域具有广泛的潜在应用。了解这些材料的I-V特性将有助于它们的最佳使用和开发。