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对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
C、(tan δ), Q测试，低电阻测量测试源频率：1kHz，1MHz 测量时间：1.5ms(1MHz) RS-232C，GP-IB

C测试仪 3506-10

产品详情

对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试

C、(tan δ), Q测试，低电阻测量测试源频率：1kHz，1MHz 测量时间：1.5ms(1MHz) RS-232C，GP-IB

概要

● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
● 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度
● 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量
● 根据BIN的测定区分容量

输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件。 ※RS-232C用连接线可以使用支持网络连接的市面上销售的交叉线。RS-232C连接线9637除硬件流控制之外的情况下可以使用。

基本参数

测量参数	C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)
测量范围	C:0.001fF～15.0000μF D: 0.00001 ～ 1.99999 Q:0.0 ～ 19999.9
基本精度	(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
测量频率	1kHz, 1MHz
测量信号电平	500mV, 1V rms
输出电阻	1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)
显示	LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)
测量时间	1.5ms：1MHz， 2.0 ms：1kHz
功能	BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口
电源	AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大40VA
体积及重量	260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
附件	电源线× 1, 电源备用保险丝× 1，使用说明书× 1

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